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全譜直讀型ICP發(fā)射光譜儀常見(jiàn)使用誤區(qū),請(qǐng)規(guī)避!

更新時(shí)間:2023-05-25  |  點(diǎn)擊率:963
  全譜直讀型ICP發(fā)射光譜儀是一種廣泛應(yīng)用于元素分析的儀器。然而,在使用它時(shí),存在一些常見(jiàn)的誤區(qū)。本文將討論這些誤區(qū)并提供解決方法。
 
  誤區(qū)1:未正確校準(zhǔn)儀器
 
  在進(jìn)行樣品測(cè)試之前,必須正確校準(zhǔn)儀器。未正確校準(zhǔn)可能導(dǎo)致結(jié)果不準(zhǔn)確或誤導(dǎo)性。因此,請(qǐng)確保正確校準(zhǔn)激發(fā)源、檢測(cè)器和樣品吸收等參數(shù)。
 
  誤區(qū)2:過(guò)度稀釋樣品
 
  過(guò)度稀釋樣品可能會(huì)降低儀器的檢測(cè)靈敏度,從而使樣品的某些元素?zé)o法被檢測(cè)到。因此,應(yīng)該遵循儀器的建議稀釋比例,并在測(cè)試之前檢查每個(gè)樣品的適當(dāng)稀釋倍率。
 
  誤區(qū)3:未正確清洗樣品容器
 
  使用未被適當(dāng)清洗的樣品容器可能會(huì)引入外部元素,從而干擾測(cè)試結(jié)果。因此,在每次測(cè)試之前,請(qǐng)確保將樣品容器適當(dāng)清洗并干燥。
 
  誤區(qū)4:忽略質(zhì)控樣品
 
  質(zhì)控樣品的作用是確定儀器的精度和準(zhǔn)確度。忽略質(zhì)控樣品可能導(dǎo)致測(cè)試結(jié)果不具可靠性。因此,在每次測(cè)試之前,請(qǐng)進(jìn)行質(zhì)控樣品測(cè)試,并記錄結(jié)果。
 
  誤區(qū)5:未正確處理數(shù)據(jù)
 
  對(duì)于ICP發(fā)射光譜儀所得的數(shù)據(jù),應(yīng)該遵循正確的分析程序和數(shù)據(jù)處理方法。未正確處理數(shù)據(jù)可能會(huì)導(dǎo)致錯(cuò)誤的結(jié)論或誤導(dǎo)性結(jié)果。
 
  總之,全譜直讀型ICP發(fā)射光譜儀是一種功能強(qiáng)大的元素分析工具。然而,在使用它時(shí),應(yīng)該避免上述誤區(qū),并嚴(yán)格遵循測(cè)試程序和數(shù)據(jù)處理方法,以確保準(zhǔn)確、可靠的測(cè)試結(jié)果。